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In unserem modern ausgestatteten Labor für Oberflächenanalytik werden unsere Schichten, sowie entschichtete Substrate, bei bis zu 100.000-facher Vergrößerung untersucht und optimiert.

Laborausstattung:

digitales Rasterelektronenmikroskop mit EDX
Lichtmikroskope mit digitalen Kameras
Fischerscope XRF (zerstörungsfreie Schichtdickenmessung)
Kalottenschleifgerät
Schichthaftungsmessung
Rockwell-Tester
Farbwertmessgerät


Dienstleistungen:

Schichtdickenmessung
Schichthaftungsmessung
REM/EDX Analytik
XRF Messungen
Materialanalysen
Farbenmessung
Werkstoffprüfung
Schadensanalyse
Probenvorbereitung
Erstellen von Analyseberichten



Mehrlagenschicht auf VHM Substrat mit Co-Leaching

Bruch, 5000-fach vergößert, Rasterelektronenmikroskop, 20keV, SE-Detektor

EDX Spektrum einer Stahlprobe